测厚仪 PW-TCK-T02
用途PW-TCK-T02测厚仪采用机械接触式测量方式,整机设计严格符合标准要求,专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片、纸张等各种材料的厚度精确测量。 技术指标指标参数量程0~2mm(标配);0~6mm、0~12mm(选配)分辨率0.1um重复性0.3um测试速度1~25 次/min测量压力17.51 KPa(薄膜);501 KPa(纸张)接触面积50 mm2(薄膜);200 mm
PW-TCK-T02测厚仪采用机械接触式测量方式,整机设计严格符合标准要求,专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片、纸张等各种材料的厚度精确测量。
指标 | 参数 |
---|---|
量程 | 0~2mm(标配);0~6mm、0~12mm(选配) |
分辨率 | 0.1um |
重复性 | 0.3um |
测试速度 | 1~25 次/min |
测量压力 | 17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张) |
接触面积 | 50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张) 注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制 |
电源 | AC 220V 50Hz / AC 120V 60 Hz |
外形尺寸 | 320mm (L)×400 mm (W)×420 mm (H) |
约净重 | 33kg |
PW-TCK-T02 测厚仪采用机械接触式测量方式,将试样放置于测试平台上,通过传动装置落下测量头,在一定的测量压力和接触面积下,通过高精度传感器读取试样的厚度。
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、T APPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、 JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817、ASTM D6988、ASTM F2251、BS 2782-6、DIN
53370、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D3652、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942
适用于测量塑薄膜、薄片、隔膜、纸张、纸板、箔片、硅片、金属片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料等材料的厚度。
5mm 和 10mm 量程的传感器可选 配;测试面积、测试压力和曲面测量头可定制。
1、严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制;
2、采用高精度测厚传感器,有效保障测量数据的准确性和重复性;
3、测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差;
4、支持手动和自动两种模式,方便用户使用;
5、标配微型打印机,可实现实时历史数据打印功能;
6、标配标准量块,方便用户标定传感器,更好地保障测量数据的准确性;
7、关键元器件选用世界知名品牌进口件,保证系统的精度和稳定性;
8、进口高速高精度采样芯片,保证测试数据的实时性和准确性;
9、7 寸高清彩色液晶屏,方便用户控制和展示实时数据及曲线;
10、支持历史数据可进行快速查看及报告打印。
标准配置:主机、内嵌软件、微型打印机、标准量块一件
选购件:专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码